Carl Zeiss Microscopy LLC

Anschrift

1 Zeiss Drive
10594 Town of Mount Pleasant

Handelsregister

_c4602938719731712

Historie

04.09.2013 - Patent: Abtastverfahren

01.04.2015 - Patent: Systeme mit Geladenen Partikeln Variabler Energie

01.04.2015 - Patent: Detektor für Geladene Teilchen

04.05.2016 - Patent: Gasfeldionenquelle mit Beschichteter Spitze

02.11.2016 - Patent: Gekühlte geladene Partikelsysteme und -verfahren

08.03.2017 - Patent: Ionquellen, Systeme und Verfahren

12.07.2017 - Patent: Ionenquellen sowie Systeme und Verfahren zu deren Verwendung

25.07.2018 - Patent: Ionenquellen, Systeme und Methoden unter Verwendung Dieser Ionenquelle

26.12.2018 - Patent: Ionenstrahlstabilisierung

21.08.2019 - Patent: Ionenquellen sowie Systeme und Verfahren zu deren Anwendung

29.04.2020 - Patent: Verfahren und Systeme für Isotopenionenmikroskopie

31.03.2021 - Patent: Verfahren und System zur Erhitzung des Spitzenapex einer Quelle für Geladene Partikel