Tera Probe Inc.
Sonstige aus Yokohama
Anschrift
KAKiYA Building
231-0017
Yokohama
Handelsregister
_c4958608979656704
Unternehmensgegenstand
Tera Probe, Inc. beschäftigt sich mit Wafertests, Endtests und Testtechnik in Japan und international. Das Unternehmen bietet Test- und Testdienstleistungen für verschiedene Halbleiterbauelemente an, darunter DRAM, SoC, CPU, Bildsensoren und analoge Geräte…
Historie
25.03.2008 - Patent: Halbleitervorrichtung mit Einem Schaltungssubtrat mit Inspektionsanschlussplätzen sowie Verfahren zu Ihrer Herstellung
07.08.2008 - Patent: Halbleiterbauelement und Herstellungsverfahren Dafür
Firmenauskunft für Tera Probe Inc.
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